Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀
簡要描述：
Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀適于工廠高速柵格二維掃描測量平面類零件，如線路板、手機外殼、模板等。封閉式結(jié)構(gòu)，平面光源位于頂部機蓋，CCD變焦系統(tǒng)位于機器底部，快速聚焦于大玻璃工作臺表面，可同時測量位于工作臺表面各種不同類型零件。
產(chǎn)品時間：2024-11-09
Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀適于工廠高速柵格二維掃描測量平面類零件，如線路板、手機外殼、模板等。封閉式結(jié)構(gòu)，平面光源位于頂部機蓋，CCD變焦系統(tǒng)位于機器底部，快速聚焦于大玻璃工作臺表面，可同時測量位于工作臺表面各種不同類型零件。
Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀，在鋁型材行業(yè)有著廣泛的應(yīng)用，世界鋁型材企業(yè)都在使用。
作為測量儀器，是當(dāng)今世界上測量二維工件zui精確的二維掃描儀（申請中）.
主要特點：
◆ 高速的矩陣式掃描系統(tǒng)，適用于生產(chǎn)現(xiàn)場的二維測量
◆ 工業(yè)圖像處理系統(tǒng)，掃描規(guī)則的幾何元素及自由輪廓
◆ 被測工件可任意位置放置
◆ 模塊化的測量軟件
◆ 利用投射光和透射光進行工件掃描
◆ 快捷方便的WinWerth評估軟件
◆ WinWerth軟件CAD在線和*公差擬合測量
◆ 平面光源
◆ 精度采用高標(biāo)準(zhǔn)雙邊標(biāo)定
技術(shù)參數(shù)：
測量范圍（玻璃工作臺 尺寸）:
X = 400/650mm
Y = 200/400/600mm
zui大工件高度：Z = 100mm
光柵尺分辨率：0.1µm
測量機zui大允許誤差:
變焦:
1)E1: (2.5+L/120) µm
E2: (2.9+L/100) µm
固定鏡頭 0.4x:
2)E1: (4.9+L/100) µm
E2: (4.9+L/75) µm
固定鏡頭 0.2x:
2)E1: (9+L/100) µm
E2: (9+L/75) µm
1)20℃±2o Δ=1o/h 5X鏡頭 2)20℃±2度 Δ=1度/h
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn) ISO 10360 和 VDI/VDE 2617